Fortgeschrittenenpraktikum Physikalische Chemie
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Datenauswertung

Rasterkraftmikroskopie

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Probe
Scanner
Line rate νline\nu_\text{line}
2
Hz\mathrm{Hz}
Scan size ss
10 × 10−6
m\mathrm{m}
Scan offset xox_\text o
0
m\mathrm{m}
Scan offset yoy_\text o
0
m\mathrm{m}
Scan angle φ\varphi
0°
Höhenregelkreis
qssetpointq_\text s^\text{setpoint}
1 × 10−9
nm\mathrm{nm}
KIK_\text{I}
100 × 103
s−1\mathrm{s^{-1}}
KPK_\text{P}
10
Steuerung
Status: Not scanning
Messdatenübersicht und Auswertung
HeightDeflectionxp / mx_\text{p}\,/\,\text{m}ypy_\text{p}qs / mq_\text{s}\,/\,\text{m}xp / mx_\text{p}\,/\,\text{m}qs / mq_\text{s}\,/\,\text{m}xp / mx_\text{p}\,/\,\text{m}ypy_\text{p}zp / mz_\text{p}\,/\,\text{m}xp / mx_\text{p}\,/\,\text{m}zp / mz_\text{p}\,/\,\text{m}−5 × 10−60 × 10−65 × 10−6−5 × 10−60 × 10−65 × 10−60.00.51.00 × 10−60.00.51.0−5 × 10−60 × 10−65 × 10−6−5 × 10−60 × 10−65 × 10−60.00.51.00 × 10−60.00.51.0−5 × 10−65 × 10−6−5 × 10−65 × 10−6
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Verbiegung

Ansicht:
Linienkorrektur:

Regelhöhe

Ansicht:
Linienkorrektur: